本文標(biāo)題:什么是金相試樣截取截面的方法
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-7-9 9:44:19
什么是金相試樣截取截面的方法
通常情況下我們所說的金相試樣截取截則是采用一
個合適的方法，這樣做可以避免在物體樣品標(biāo)本在
切割的過程中因切割不當(dāng)而引起樣品標(biāo)本顯微組織
結(jié)構(gòu)的變化。
因此我們需要注意這種顯微組織結(jié)構(gòu)變化的原因材
料是什么，這可能是金相顯微組織發(fā)生變化，還可
能是低熔點的金屬。
對于引起金屬金相試樣截取截面的顯微表面組織的
變化，特別需要注意是低熔點的金屬。
這是由于它們在切割的過程中晶體顆粒結(jié)晶溫度太
低，這就需要我們根據(jù)不同的材料選擇不同的方法
進(jìn)行金相試樣截取截。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.szkktyh.cn/xinwen/1688.html
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